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產品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | Enlitech | 應用領域 | 電子 |
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全光譜的波長范圍 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) | 動態(tài)范圍 | 80dB、100dB或140dB |
產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SG-A 可提供最完整的CMOS圖像傳感器參數量測分析,例如全光譜量子效率(QE)、整體系統(tǒng)增益(K)、時間暗噪聲、信噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態(tài)范圍、暗訊號非均勻性 (DSNU)、光響應非均勻性 (PRNU)、線性誤差和主光線角度 (CRA)。
待測元件可以是多種類型的 CMOS 影像感測器模塊。 檢測程序符合EMVA 1288標準。
因此,SG-A CMOS影像傳感器測試儀可用于進行晶圓級光學檢查、工藝參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。 SG-A CMOS 影像傳感器測試儀的高準直光束 (< 1°) 可以克服傳統(tǒng)光學系統(tǒng)(如積分球系統(tǒng))無法解決的新制造工藝的檢測難題。
這些制成包括小像素(< 1微米)、BSI和3D堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等。
● 無損光學檢測
● 高準直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°(不同型號)。
● 高均勻光斑:≥ 99%。
● 光源不穩(wěn)定度≤1%。
● 高動態(tài)范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。
● 可測試 CMOS 圖像傳感器參數:量子效率、光譜響應、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、訊噪比、飽和容量、線性誤差 (LE)、暗電流非均勻性 (DCNU)、光響應非均勻性 (PRNU)、主光線角度 (CRA)。
● 全光譜波長范圍:300nm-1100nm 或 350nm~1000nm(依型號而定)。
● 波長可擴展至1700nm或更長。
● 待測元件封裝:CIS 模組、PCB 板級、CIS 相機,含/不含微透鏡。
● SG-A 與待測元件之間可透過「直接通訊」或「握手通訊」進行數據交換。
● 客制化測試夾具和平臺(手動或自動,最多 6 軸)。
● 功能強大的分析軟件ARGUS®。
● 應用:指紋辨識(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT陣列感測器)、CIS微透鏡設計、晶圓級光學檢測、CIS DSP芯片算法開發(fā)、硅基TFT感測器面板、飛行時間相機感測器、近接感測器(量子效率、靈敏度、線性度、訊噪比等)、d-ToF 感測器、i-ToF 感測器、多光譜感測器、環(huán)境光感測器(ALS)、屏幕下指紋識別 (FoD) 感測器。
SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀功能強大,因此相關規(guī)格和配件非常齊全
以下為主要功能規(guī)格:
● 全光譜波長范圍:300-1100nm 或 350-1000nm (PTC)
● 波長范圍可擴展至 1700nm 或更高。
● 單一波長光源:470nm、530nm、630nm、940nm (±5nm) 或定制
● 動態(tài)范圍:80dB、100dB 或 140dB
● 測試夾具:DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm(高)[Basic type] 或定制
● 平臺:非、手動 3 軸或 6 軸(手動 + 自動)平臺(可定制)
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于:
● 指紋識別:(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)
● CIS的微透鏡設計,晶圓級光學檢查
● CIS DSP芯片的算法開發(fā)
● Si TFT傳感器面板
● 飛行時間相機傳感器
● 近距離傳感器:(量子效率、靈敏度、線性度、SNR等)
● d-ToF傳感器、i-ToF傳感器
● 多光譜傳感器
● 環(huán)境光傳感器:(ALS)
● 指紋顯示(FoD)傳感器
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